Каталог "Статии"
| Периодични издания
Предг.: M. Ruhle
Statitical Analysis of the Intergranular Film Thickness in Silicon Nitride Ceramics
H-J. KLEEBE; R. M. Cannon; M. K. CinibulkПредг.: M. Ruhle
УЛ 24
Детайли
- Източник
- JOURNAL OFTHEAMERICAN CHERAMIC SOCIETY
- Година на издаване
- 1993
- Пор.№
- N8
- Страници
- с. 1969-77
- Том
- 76
Допълнителна информация
- Отрасъл
- Общ отдел
- Системен №
- 948